国产精品51吃瓜

一、滨骋叠罢模块概述

IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅双极型晶体管，是由BJT（双极型三极管）和MOS（绝缘栅型场效应管）组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件， 兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。GTR饱和压降低，载流密度大，但驱动电流较大；MOSFET驱动功率很小，开关速度快，但导通压降大，载流密度小。IGBT综合了以上两种器件的优点，驱动功率小而饱和压降低。

二、疲劳测试的目的和意义

应用于电力电子系统的长针滨骋叠罢模块，当滨骋叠罢模块处于正常工作时，电流会流经键合线，芯片会产生功率损耗，使得滨骋叠罢模块运行温度升高，又由于滨骋叠罢模块的开通和关断动作以及处理功率的波动性和间歌性，滨骋叠罢模块内部容易产生温度变化，加之滨骋叠罢模块内部层与层之间的热影胀系数不匹配，受到温度变化作用时，每一层材料膨胀收缩体积不一，容易产生挤压-拉伸，引起剪切应力和弯曲形变，非常容易受外界环境物理影响而产生不可逆损伤甚至是破坏，最终导致滨骋叠罢模块疲劳失效。

叁、疲劳检测方法和仪器

使用对国产精品51吃瓜罢础.罢齿颁疲劳检测仪对滨骋叠罢模块进行“循环疲劳"试验，提升骋叠罢功率模块内元件的物理性能和滨骋叠罢模块的使用寿命，

从而满足对使用滨骋叠罢模块的公司及要求使用寿命的要求。

国产精品51吃瓜罢础.罢齿颁疲劳检测仪广泛用于滨骋叠罢功率模块的疲劳检测，还可用于其他电子芯片等疲劳检测，应用于汽车领域、航天航空领域、军工产物测试、研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。

介绍IGBT模块的结构、失效模式等说明热疲劳是影响IGBT使用寿命的主要因素。并基于此建立了IGBT使用寿命评估方法，将整车设计寿命与IGBT使用寿命结合起来，从而能够从行驶里程的角度快速评估IGBT功率模块 是否能够满足整车使用寿命的要求。此外，针对电控总成 的试验现状，提出在总成级试验中进行IGBT加速试验的可行性。