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质构仪探头-食品探头 TA/SFR

质构仪探头-食品探头 TA/SFR

更新时间:2024-12-09

访问量:876

产物型号:

产物特点:质构仪探头-食品探头 TA/SFR
可测量折断压力和弯曲特性,主要用于干面条的测试,由于硬质小麦的发芽损伤导致面条质地损伤,或者不同的烘干程序使面条产生了不同的特性,通过该方法可以反映面条的质地,包装运输过程中的抗折断性。尤其是不仅仅完成常规的断条率测试,还可以帮助用户了解折断强度和抗弯柔性信息。

质构仪探头-食品探头 TA/SFR的详细资料:

质构仪探头-食品探头 TA/SFR
可测量折断压力和弯曲特性,主要用于干面条的测试,由于硬质小麦的发芽损伤导致面条质地损伤,或者不同的烘干程序使面条产生了不同的特性,通过该方法可以反映面条的质地,包装运输过程中的抗折断性。尤其是不仅仅完成常规的断条率测试,还可以帮助用户了解折断强度和抗弯柔性信息。

质构仪探头-食品探头 TA/SFR
可测量折断压力和弯曲特性,主要用于干面条的测试,由于硬质小麦的发芽损伤导致面条质地损伤,或者不同的烘干程序使面条产生了不同的特性,通过该方法可以反映面条的质地,包装运输过程中的抗折断性。尤其是不仅仅完成常规的断条率测试,还可以帮助用户了解折断强度和抗弯柔性信息。

质构仪探头-食品探头 TA/SFR
可测量折断压力和弯曲特性,主要用于干面条的测试,由于硬质小麦的发芽损伤导致面条质地损伤,或者不同的烘干程序使面条产生了不同的特性,通过该方法可以反映面条的质地,包装运输过程中的抗折断性。尤其是不仅仅完成常规的断条率测试,还可以帮助用户了解折断强度和抗弯柔性信息。

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